AC / DC-SDS – M470
M470 – 液滴電池掃描量測
- 適用於全導體、半導體
- 掃描頭置中 – 檢測品不會持續接觸腐蝕環境
- 也可用於感應器、觸媒
規格
掃描階段
| 掃描範圍 (x,y,z) |
約 110 mm x 110 mm x 110 mm |
| 最小步長 (x,y,z) |
20 nm |
| 定位 |
閉環定位、線性、零延遲編碼器， |
| 線性位置解析度 |
20 nm |
| 最大掃描速度 |
10 mm/s |
| 量測解析度 |
40 MHz(32 bits 編碼器) |
| 設備尺寸 (H x W x D) |
約 500 mm x 400 mm x 675 mm |
套用恆電位儀(以 SP-300 為例)
| 合規電壓 |
± 12 V |
| 應用電位 |
± 10 V |
| 應用解析度 |
300 μV |
| 量測電位 |
± 10 V |
| 量測解析度 |
1.65 μV |
| 電流範圍 |
100 pA ~ 1A |
| 最大電流 |
± 500 mA |
| 電流解析度 |
76 aA |
| 流動電容量 |
流動模式 |
| 連接電極數 |
2、3、4 |
| 掃描速度 |
1 μV/s ~ 200 V/s |
| 量測模式 |
恆電位儀、開路電位 |
恆電位儀配有 EIS 通道
| 頻率範圍 |
10 μHz ~ 3 MHz |
| 分析精度 |
1%, 1° |
| 頻率解析度 |
0.1 nHz |
SDS 探頭
| 包含 |
500 μm PTFE、100 μm MACOR® |
500 μm PEEK
| 類型 |
500 μm PTFE、100 μm MACOR® |
| 參考電極 |
銀氯化銀 |
| 對應電極 |
白金絲 |
| 探頭構造 |
PEEK 矽膠管 |
| 光圈 |
ID 500 μm, 0.196 mm2 |
| 解析度 |
< 1 mm (考量到溶液/表面積差異性) |
100 μm PEEK
| 參考電極 |
白金絲 |
| 對應電極 |
白金絲 |
| 探頭構造 |
PEEK |
| 光圈 |
100 μm、0.00785 mm2 |
| 解析度 |
200 μm |
幫浦系統
| 類型 |
蠕動幫浦 |
| 通道數 |
2 |
整體
| 適用實驗 |
dc-SDS Line Scan、dc-SDS Area Scan、ac- |
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